本特利Bentiy鎧裝探頭

探頭對于測量，是至關(guān)重要的一環(huán)。配合示波器，組成一套工程師安全、可靠的測試系統(tǒng)。面對不同的測試需求和示波器，工程師如何在眾多的探頭型號與品牌中做出正確選擇？

 正確選擇探頭的五大要素

1 可靠性

可靠性的重要不光只針對與探頭，對于測試設(shè)備及附件，可靠性也是最重要的因素。一臺優(yōu)質(zhì)的測試儀器能夠讓工程師對測試結(jié)果擁有堅(jiān)定的信心。

探頭的可靠性對于復(fù)雜產(chǎn)品設(shè)計尤其重要。在產(chǎn)品設(shè)計過程中，一個很小的測試誤差就會將工程師引導(dǎo)到錯誤的方向。那么如何驗(yàn)證探頭的可靠性呢？

首先，驗(yàn)證探頭是否能在一定時間內(nèi)保證設(shè)計指標(biāo)？是否在誤差可控的范圍內(nèi)工作？（高精度、高速測試更應(yīng)重視）

2 安全性

探頭必須要經(jīng)過安全驗(yàn)證

電子產(chǎn)品都必須經(jīng)過一系列的標(biāo)準(zhǔn)的認(rèn)證，才能到用戶手中，以確保使用過程中的安全性。例如高壓探頭，測試對象動輒幾百上千伏的高壓對使用者來說是非常危險的，廠家必須嚴(yán)格管控其安全標(biāo)準(zhǔn)的測試及認(rèn)證。

對于探頭額定的測試電壓或者電流測試要求要高于其指標(biāo)標(biāo)準(zhǔn)以保證更加安全的測試。其次還有電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)的測試，環(huán)境的測試都是從各個方面來保證使用者的安全。

3 專業(yè)性

探頭是為了滿足示波器不同的測試需求而研發(fā)的。

由于不同行業(yè)技術(shù)要求，從信號類型的角度出發(fā)，電源行業(yè)工程師要求測試低至幾百 UV 或幾個 mA 微小紋波信號，直流電流高達(dá) 500 安，交流電流信號幾千安培，高壓差分信號高達(dá) 5000-6000V。

在安規(guī)方面的測試需要測試高達(dá) 1-2 萬伏的沖擊電壓，在很多高速數(shù)據(jù)應(yīng)用場景要求測試高達(dá)幾個甚至十幾 GHz 級別高速差分信號。此外還有很多特殊的應(yīng)用例如在大功率驅(qū)動電路上要求測試在高達(dá)幾百上千伏共模電壓環(huán)境準(zhǔn)確測試幾伏微小信號。

為保證足夠的測試系統(tǒng)的精度及穩(wěn)定性，需要有專用的探頭滿足不同的測試需求。

綜上，選擇探頭要考量自有示波器型號及指標(biāo)接口，還有很重要的就是對測試對象的評估，選擇合適探頭成為測試的關(guān)鍵。

4 精度

專為示波器打造探頭，會整體考量測試系統(tǒng)的精度，設(shè)計探頭和示波器的匹配。其中有幾個非常重要的方面如下：

帶寬：對于示波器這種測試系統(tǒng)來說，示波器和探頭的帶寬決定了系統(tǒng)的測試帶寬。所以帶寬對探頭來說也是非常重要的一種指標(biāo)，是其測試多快信號的能力表征。

電阻：因?yàn)樘筋^的引入會導(dǎo)致整個測試環(huán)路的電阻的變化，由電壓信號測試的原理可知，電阻的變化會影響信號幅值的測試。

5 全面服務(wù)

示波器探頭屬于易耗品，工程師使用頻繁高，測試環(huán)境復(fù)雜，偶爾的人為操作失誤都會導(dǎo)致探頭的損壞。

使用示波器的工程師都會經(jīng)常面臨探頭的維修及校準(zhǔn)問題。出現(xiàn)故障時工程師希望能準(zhǔn)確及時的判定問題的來源，這類難題需要專業(yè)的技術(shù)人員幫忙確認(rèn)。校準(zhǔn)服務(wù)也是*。電子產(chǎn)品在長時間使用時，可能會出現(xiàn)指標(biāo)波動，甚至?xí)霈F(xiàn)超標(biāo)情況，所以對于探頭需要定期進(jìn)行校準(zhǔn)以保證測試能力。

專業(yè)、及時、準(zhǔn)確的產(chǎn)品售后服務(wù)是選擇探頭需要考量的重要因素。

本特利為示波器打造了具備高可靠性、高安全性、高專用性、高精度以保護(hù)的探頭。

本特利Bentiy鎧裝探頭

美國本特利bently探頭

本特利bently模塊

探頭傳感器330101-00-08-05-02-00

探頭傳感器330101-00-08-10-02-00

探頭傳感器330101-00-08-10-02-05

探頭傳感器330101-00-12-10-02-00

探頭傳感器330101-00-12-10-02-05

探頭傳感器330101-00-16-10-02-00

探頭傳感器330101-00-16-10-02-05

探頭傳感器330101-00-20-05-02-00

探頭傳感器330101-00-20-10-02-00

探頭傳感器330101-00-20-10-02-05

探頭傳感器330101-00-30-10-02-00

探頭傳感器330101-00-30-10-02-05

探頭傳感器330101-00-40-05-02-00

探頭傳感器330101-00-40-10-02-00

探頭傳感器330101-00-40-10-02-05

探頭傳感器330101-00-60-10-02-00

探頭傳感器330101-00-60-10-02-05

探頭傳感器330102-00-20-10-02-00

探頭傳感器330103-00-02-10-02-05

探頭傳感器330103-00-03-10-02-05

探頭傳感器330103-00-04-10-02-00

探頭傳感器330103-00-04-50-02-00

探頭傳感器330103-00-06-05-02-00

探頭傳感器330103-00-06-10-02-00

探頭傳感器330103-10-20-10-02-00

探頭傳感器330103-00-05-10-02-00

探頭傳感器330104-00-06-10-02-00

探頭傳感器330104-01-05-50-02-00

探頭傳感器330104-00-04-05-02-00

探頭傳感器330104-00-09-05-02-00

探頭傳感器330104-00-18-10-02-00

探頭傳感器330104-12-22-10-02-00

探頭傳感器330105-02-12-05-02-00

探頭傳感器330105-02-12-05-02-05

探頭傳感器330105-02-12-10-02-00

探頭傳感器330105-02-12-10-02-05

探頭傳感器330106-05-30-05-02-00

探頭傳感器330106-05-30-05-02-05

探頭傳感器330106-05-30-10-02-00

探頭傳感器330106-05-30-10-02-05

探頭傳感器330703-000-060-10-02-00

探頭傳感器330704-000-050-10-02-05

探頭傳感器330708-20-50-10-02-00

探頭傳感器330173-00-04-10-02-00

探頭傳感器330604-00-13-10-02-00

電流探頭的校準(zhǔn)需要用一個夾具來進(jìn)行，該夾具由兩個半截的同軸轉(zhuǎn)換器組成。當(dāng)將 電流探頭裝配其上時，便形成了一根同軸線：包裹著電流探頭的為外導(dǎo)體，穿過探頭口徑的為內(nèi)導(dǎo)體。

電流探頭的校準(zhǔn)用網(wǎng)絡(luò)分析儀將源端接到校準(zhǔn)架的輸入端（端口一），校準(zhǔn)架輸出端接匹配負(fù)載，電流探頭輸出接網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸入（端I21二），用掃頻方式測試出s，隨頻率變化的曲線。再將曲線按公式進(jìn)行修正，即可得到傳輸導(dǎo)納頻率曲線。該方法的優(yōu)點(diǎn)是掃頻測量測試速度快，網(wǎng)絡(luò)分析儀測試時一次可設(shè)置201個點(diǎn)9掃描一次即可畫出曲線。

電流探頭校準(zhǔn)操作步驟及校準(zhǔn)結(jié)果

（1）在PC上插入USB—GPIB接口卡，在PC中裝入SoftplotV6．0采圖軟件，連接Pc與網(wǎng)絡(luò)分析儀；

（2）連接網(wǎng)絡(luò)分析儀與校準(zhǔn)電流探頭需用的電纜及轉(zhuǎn)接頭，根據(jù)探頭校準(zhǔn)的頻率范圍對網(wǎng)絡(luò)分析儀進(jìn)行直通校準(zhǔn)；

（3）連接網(wǎng)絡(luò)分析儀源輸出端到校準(zhǔn)架的輸入端，校準(zhǔn)架輸出端接匹配負(fù)載，電流探頭輸出接網(wǎng)絡(luò)分析儀的輸入（接收端），測試出S：。曲線；

（4）用采圖軟件將S，曲線采到PC中；

（5）用列表法列出構(gòu)成S，曲線的201個數(shù)據(jù)點(diǎn)；

（6）將201個數(shù)據(jù)復(fù)制到PC中的Excel表中，將數(shù)據(jù)取值并用該值減去34（修正系數(shù)）；

（7）將修正后Excel表中的數(shù)據(jù)復(fù)制到采圖軟件的數(shù)據(jù)表格中，畫出修正過后的曲線，該曲線即為傳輸導(dǎo)納一頻率曲線；

（8）將傳輸導(dǎo)納曲線復(fù)制到PC的畫圖板，用u盤考出或用打印機(jī)打出供EMI測試人員使用時查表。

示波器電流探頭校準(zhǔn)方法，經(jīng)過了理論分析及實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證的過程，該方法的提出及實(shí)施對EMI檢測質(zhì)量的提高有著積極的作用。